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无损检测仪器

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[仪器展示] X荧光镀层测厚仪,高精度镀层测厚仪

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    发表于 2014-3-29 16:13:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
    0 M" F. `" H, j  q' T* ]

    4 ]1 K$ W4 A- q8 J, b一、仪器介绍CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪,应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 ' r' q$ @- u5 X& J
    · 涂镀层厚度测量和/或成分分析,元素范围 Ti - U , t( i  q  `9 _3 C" D' R
    · 可同时进行多达15层元素成分分析 6 B% z/ l5 C4 m  n9 \
    · 测量方法符合ISO 3497,ASTM B568和DIN 50987/ w; m: Y! u5 _4 e+ K9 s  x( {& O

    * n1 ]- c/ _8 x6 O) |二、应用
    ; A% W# ~( Y' L· 多镀层金属厚度测量 . E* {: H& g5 ^" E7 M, Z8 B, ~& G
    · 合金鉴定及化学分析   |, I) ]2 T" X( O8 Z- f
    · 电镀液分析 + O% s9 r( M0 y
    · 金成色分析 ; x5 P+ @& W* _9 R+ H

    5 z8 X# \& y9 _& F' q三、特点
    9 p/ |# e  B/ p" d9 I· 标准50瓦微焦X射线管! b6 z. @# X$ e8 N% A( `/ |" v/ d
    · 计数率增加,精度提高 6 x) x+ x9 J7 P
    · 可升级75瓦光管 : O8 S9 d( _: Z! m% i3 }
    · 多准直器 9 |: r5 l0 I: ^
    · 计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡
    + |: K# z  G1 Q, g+ N) k· 镭射聚焦
    7 O$ z6 V7 e9 L. I· 改善系统再现性(消除人为干扰) 9 R; `3 o' m! n
    · 标准FP软件包 ) x: R; R  G2 w! O3 @
    · 综合应用模式 * S5 u  O7 Q) J
    · 简单校准 $ {6 o( d0 K1 I% }+ L8 U0 [) r: Q) h1 Z" w
    · 开槽式设计样品台,自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标 : U' Z% p; r9 E* B, m
    · 提供中文等7种语言界面
    $ A5 J$ j9 l  I  a! U1 i
    7 l0 B) V# P, S+ p% r8 c9 R9 h三、技术指标  H8 s4 l/ _( z
    X射线激发
    50 瓦微聚焦钨靶X 射线管
    探测器
    氙气填充的正比计数器
    数字脉冲处理
    4096 多道数据分析功能
    5 m: d) k  O' j自动信号处理,包括死时间修正
    计算机
    奔腾D,3.0GHz,160Gb 硬盘,512Mb9 R0 E% R$ Z7 I9 h$ X
    内存,MicrosoftTM XP 系统 **同等配置或更好
    电源
    85~130 或 215~265 伏,频率范围:47Hz-63Hz
    工作环境
    50℉(10℃)-104℉(40℃),相对湿度达98%,非凝固状态
    工作台行程
    (XYZ 轴可调节)6"×7"×1.9"(15.2cm x 17.8cm×4.8cm)
    ; H! B* O' w# j. A, _

    6 U6 t- [1 v* E8 Q  g- N- f



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