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无损检测仪器

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[仪器展示] X荧光光谱仪Thick800A

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    发表于 2014-9-29 14:18:17 | 显示全部楼层 |阅读模式
    ou-067.gif ; _) K4 s; d' U9 [8 \+ X  w
    一、仪器介绍
    / e% v7 g  R8 i: ^& fEDX600贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器,以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。
    2 [+ ^% N. o6 m二、性能特点5 i& M: @4 B+ _" b
    专业贵金属检测、镀层厚度检测。( X1 m+ k/ i$ D. |7 W5 o# y$ s
    内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。
    ' b  a9 i2 J) O智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
    2 a. _  S& _5 E" Q& n任意多个可选择的分析和识别模型。0 Y! b% v2 H$ K5 g# J5 L
    相互独立的基体效应校正模型。- r3 V" i/ @8 l; Q- c) a5 S
    多变量非线性回收程序。$ O2 [8 s. O, d5 w/ }6 c  |) A* m
    三、技术指标6 N( g& v9 J: b! T1 G  A( M4 W
    元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。( d/ l  k4 T# f/ q" O
    测量对象:固体、液体、粉末
    9 h! J. Z& |% J分析检出限可达:1ppm。0 e/ n) q+ g' `2 M7 p' ]9 x
    分析含量一般为:1ppm到99.9%。
    0 |1 A' B- v" S# E) _: F多次测量重复性可达:0.1%。% h- ?& Y, W0 G, b
    长期工作稳定性为:0.1%。
    * a# D8 Z+ T- J8 {' L4 Z( J
    8 C$ F% N- p7 C2 T四、标准配置' ^' Q2 v5 G5 a' X
    单样品腔。
    0 O. P( a8 Y* L. Q! `! [& U激光定位装置。3 ~1 z2 S9 x* e+ a6 e3 S" P5 \
    正比计数盒探测器。( ]1 }* _* K& i/ i
    信号检测电子电路。' L( d4 K; j! j8 W: ~( Z
    高低压电源。
    ( P4 c' J0 Y9 S$ V5 UX光管。
    # c+ K( C" Y, f) H五、应用领域, e( m+ U) k8 ^) p
    黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
    % t" u' g% X' Q6 l3 k4 I$ P1 t金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
    7 p0 ^: z9 X/ S5 R: ~主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。4 ^6 N4 C# J9 b  d& f0 ]* _
    # F% Q% K& u7 U! Y3 A. H& n; \



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