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无损检测仪器

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[仪器展示] X荧光光谱仪Thick800A

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    发表于 2014-9-29 14:18:17 | 显示全部楼层 |阅读模式
    ou-067.gif ) u& p% }9 v  S
    一、仪器介绍, P; v$ [) t4 s4 ~0 ^" d0 a
    EDX600贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器,以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。
    1 {% ?. Q- A* X! R# ~" _二、性能特点
    ( I6 b/ Q- k! h- z' X专业贵金属检测、镀层厚度检测。. B: @) i5 v# A1 L" u6 m
    内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。
    2 H  `% W+ F. ~# X% m1 ^( J智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。, k0 U5 G* L7 @2 e, I
    任意多个可选择的分析和识别模型。* c  |7 o8 ?+ U% V4 N; t
    相互独立的基体效应校正模型。" k: ?/ M; k: H2 b6 Z
    多变量非线性回收程序。
    1 y0 l/ q! C+ H, S2 w三、技术指标
    & C, [1 {1 ?+ @. z/ Z2 y3 l元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。
    9 P/ @; Q, @! O& ~测量对象:固体、液体、粉末
    * ]0 O4 D# y) R6 U" I- ]分析检出限可达:1ppm。1 s" }2 d. G- d
    分析含量一般为:1ppm到99.9%。
    6 w* t- n0 K' u多次测量重复性可达:0.1%。0 e: g. {! `0 P; d( r- @
    长期工作稳定性为:0.1%。
    . L# D4 I/ J' g
    - ^9 S+ J+ [" \8 Z7 J5 y0 G四、标准配置; E8 u/ j. ~1 M; a/ F
    单样品腔。
    # Y1 m& y& r, n/ e激光定位装置。
    2 K$ B& D8 e; G! z; n8 {正比计数盒探测器。- ], s3 x1 ^6 N) C
    信号检测电子电路。
    $ z2 `+ |) q. \高低压电源。, r0 k8 b4 p! x" E6 s1 X7 \
    X光管。" F9 U( h* {+ R4 ?' G* L
    五、应用领域
    4 F+ g0 I* N1 p- G黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
    # ]) ?: G, G! H6 B3 f/ }2 z金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。  Z0 K- R' C+ o) N$ X' x. j; h
    主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
    - ~+ @" n$ E2 q- q) E7 ?7 m
    3 x, E9 l2 Q- T5 K: \$ U. i, c



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