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- F2 T* x) k" ]1 w# v$ y
一、仪器介绍CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪,应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 + d. d! h8 q0 c& G
· 涂镀层厚度测量和/或成分分析,元素范围 Ti - U
8 C! T7 S& ^7 ^0 G4 R· 可同时进行多达15层元素成分分析 - D) Q) u' K( V& U+ X
· 测量方法符合ISO 3497,ASTM B568和DIN 50987
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, [4 ^7 ^. |1 r5 W# v3 i2 m# p二、应用
3 @% g# W& k2 s5 k· 多镀层金属厚度测量
3 k. @( P1 D4 _' j· 合金鉴定及化学分析 ' [6 H% `1 m7 ^( L- k7 m j& ~2 ?
· 电镀液分析
0 l$ i2 T7 V* t4 D0 m· 金成色分析 / T9 [0 O& V# n; x+ o+ E% Q
2 C9 {( S* H- j8 D* ~) x8 V
三、特点; M _5 }0 V k
· 标准50瓦微焦X射线管. l% ^# `/ {' H$ |/ ~! U; z1 `% x
· 计数率增加,精度提高
% c! P/ K: b* S* \3 u7 b& @· 可升级75瓦光管
- [8 G2 n3 |+ \3 K· 多准直器
# h5 u9 N6 u7 v· 计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡 6 y% E. Y. |' v9 W m
· 镭射聚焦 0 D! M4 s2 o& ?) b {
· 改善系统再现性(消除人为干扰) # h! |: ^3 v$ n6 C) k/ b
· 标准FP软件包 ; o, l" Y9 h: \# M
· 综合应用模式
& Y6 z" u) Y9 U3 x9 k· 简单校准 , }0 S: g9 K# ^
· 开槽式设计样品台,自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标
) Z- f, i: _3 w# |· 提供中文等7种语言界面
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0 c6 ~! R( S' r+ G: o3 Z三、技术指标; Y0 g6 i f* `1 w' q( Q* V& u
| | | | | 4096 多道数据分析功能
: i. j3 [$ ^; X% z+ @: x) T+ Y" h自动信号处理,包括死时间修正 | | 奔腾D,3.0GHz,160Gb 硬盘,512Mb
. V3 V+ c/ r! M( ?) D5 I+ z* J内存,MicrosoftTM XP 系统 **同等配置或更好 | | 85~130 或 215~265 伏,频率范围:47Hz-63Hz | | 50℉(10℃)-104℉(40℃),相对湿度达98%,非凝固状态 | | (XYZ 轴可调节)6"×7"×1.9"(15.2cm x 17.8cm×4.8cm) |
2 B& O. z f, n9 Q! r# Z0 B. f% w2 i' k! R g$ d
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